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进而更精准地捕捉到那些在常规垂直检测下易被

作者:旋乐吧  日期:2026-01-02  浏览:  来源:旋乐吧网站

  

进而更精准地捕捉到那些在常规垂直检测下易被忽略的细微缺陷

  国家知识产权局信息显示,上犹县宇平电子科技有限公司申请一项名为-…“一种电器元器件中专用芯片的生产线月▲☆。

  专利摘要显示,本发明涉及芯片生产技术领域□,具体地说,涉及一种电器元器件中专用芯片的生产线,其包括传输带,所述传输带一端两侧均固接有斜板,所述斜板远离传输带的一端固接有临时收纳盒,所述临时收纳盒一侧安装有机械臂,所述机械臂一侧安装有LED芯片检测装置主体…,所述LED芯片检测装置主体顶部连接有检测光源,所述LED芯片检测装置主体中部设置有偏移组件;通过偏移组件的设置,可使得进行检测的电器元器件专用芯片在检测过程中产生偏移▷,使其角度发生变化,从而将静态检测转化成动态检测,以此模拟芯片在实际应用中可能出现的各种姿态,使检测光线以不同入射角照射芯片表面,进而更精准地捕捉到那些在常规垂直检测下易被忽略的细微缺陷。

  天眼查资料显示,上犹县宇平电子科技有限公司,成立于2020年▽,位于赣州市,是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本50万人民币。通过天眼查大数据分析,上犹县宇平电子科技有限公司专利信息12条,此外企业还拥有行政许可3个。

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